Zastosowanie metod spektroskopowych XPS i SIMS w badaniach procesów transportu w warstwie wierzchniej materiałów
Autor
Dyscyplina
nauki techniczne
nauki techniczne » inżynieria materiałowa
ISSN
0867-6631
Typ publikacji
monografia
Format
B5
Oprawa
miękka
Liczba stron
106
Rok wydania
2009
Opis
Wydawnictwa nie prowadzą sprzedaży książek z serii "Rozprawy Monografie". Zainteresowanych prosimy o kontakt z ich autorami.
Spis treści
Cena
0,00
In order to arrange international shipping details and cost please contact wydawnictwa@agh.edu.pl