W ciągu ostatnich kilku lat liczba systemów do akwizycji i analizy dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych w skaningowych mikroskopach elektronowych rośnie systematyczne w laboratoriach prowadzących badania z zakresu inżynierii materiałowej. W trakcie badań pojawiają się różnego rodzaju wątpliwości dotyczące samego pomiaru dyfrakcyjnego i późniejszej interpretacji otrzymanych wyników.
Z doświadczenia Autora wynika, że brak jest wystarczającej wiedzy na temat procesu powadzenia badań, a także wyboru optymalnych parametrów pracy skaningowego mikroskopu elektronowego, które zapewniłyby poprawną akwizycję map orientacji. Rozwiązania wymaga szereg kwestii związanych m.in. z jakością obrazu dyfrakcyjnego, przygotowaniem próbek do badań oraz akwizycją dyfrakcji z krystalicznych materiałów nieprzewodzących prądu elektrycznego.
W literaturze polskiej brak jest opracowań o praktycznych aspektach takich pomiarów. W opinii autora niniejsze opracowanie może wypełnić tę lukę, stanowiąc niezbędną pomoc dla badaczy, którzy rozpoczynają swoją przygodę z tą techniką pomiarową, ale również dla tych bardziej doświadczonych, którzy chcieliby poszerzyć wiedzę w zakresie metody dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych.